在數(shù)字電路實(shí)驗(yàn)中，需要使用若干儀器、儀表觀察實(shí)驗(yàn)現(xiàn)象和結(jié)果。常用的電子測量儀器有萬用表、邏輯筆、普通示波器、存儲示波器、邏輯分析儀等。萬用表和邏輯筆使用方法比較簡單，而邏輯分析儀和存儲示波器目前在數(shù)字電路教學(xué)實(shí)驗(yàn)中應(yīng)用還不十分普遍。示波器是一種使用非常廣泛，且使用相對復(fù)雜的儀器。
下文將為您介紹示波器曾不為人知的12項(xiàng)功能。
一、協(xié)議解碼
根據(jù)示波器波形顯示進(jìn)行串行總線手動解碼既耗時(shí)又容易出錯。在這一相對簡單的I2C信號中，可能有問題存在。您能輕松找到這個問題嗎？甚至還能說出該信號代表什么嗎？要對該數(shù)據(jù)包進(jìn)行手動解碼，需尋找到包頭、數(shù)據(jù)位及包尾。利用時(shí)鐘狀態(tài)（**）對所有數(shù)據(jù)信號狀態(tài)（藍(lán)色）進(jìn)行對照確認(rèn)，然后將其轉(zhuǎn)換為十六進(jìn)制數(shù)值。
在此將手動解碼與自動解碼示例進(jìn)行比較。只需定義時(shí)鐘和數(shù)據(jù)處于哪些通道上以及定義用于確定邏輯值（“1”和“0”）的閾值，就可以讓示波器獲悉正通過總線傳輸?shù)膮f(xié)議。在一瞬間，就可對串行數(shù)據(jù)進(jìn)行解碼并將其顯示出來，說明總線波形顯示中的起始位、地址位、數(shù)據(jù)位和結(jié)束位。對I2C總線而言，地址值和數(shù)據(jù)值能夠以十六進(jìn)制方式顯示，或以二進(jìn)制方式顯示。
二、網(wǎng)絡(luò)分析儀
需測量回波損耗（Sdd11）或插入損耗（Sdd21），但卻沒有TDR或VNA，怎么辦？您可用高帶寬示波器進(jìn)行一些近似于網(wǎng)絡(luò)分析的測量，盡管這樣做好像有些超出其使用范圍，而且肯定有某些局限。傳統(tǒng)的頻率響應(yīng)時(shí)間測試涉及對快脈沖的測量以及對響應(yīng)FFT的查看。除這種測量外，您還可以通過一些相當(dāng)基礎(chǔ)的設(shè)置來測量回波損耗和插入損耗。
例如，一些高速標(biāo)準(zhǔn)（像PCI Express 3.0和USB 3.0）包括有這樣的測量，一長串邏輯值“1”后接一長串“0”。這構(gòu)成一種穩(wěn)態(tài)條件或低頻狀態(tài)。然后，測試圖案變?yōu)闀r(shí)鐘或1010圖案，又稱為奈奎斯特圖。對前后電壓電平進(jìn)行比較，得到一個標(biāo)稱插入損耗值。可采用更*的技術(shù)以及自定義信號激勵來提取其他詳細(xì)信息。在一篇題為“在數(shù)字存儲示波器上進(jìn)行以太網(wǎng)微分回波損耗測量”的白皮書（www2.tek.com/cmswpt/tidetails.lotr?cs=wpp&ci=2748）上可找到有關(guān)某一程序的技術(shù)概覽的佳作。
三、在DVD驅(qū)動器上播放影片
大型LCD屏幕還可用作什么呢？可以肯定的是，您可以在示波器上觀看信號完整性分析指南，但更令人高興的是，您還可以觀看zui近的電影（但是還不能觀看3D視頻）。
四、濾波
您是否需要用高帶寬示波器測量低頻信號但又不想有高頻噪音？許多示波器都具有數(shù)字信號處理功能，可進(jìn)行濾波，包括低通濾波。下一次，您想在您12GHz示波器上測量100MHz時(shí)鐘時(shí)，可使用帶寬限制功能，以得到更佳的信噪比和更的測量值。
五、寬帶雷達(dá)測試
數(shù)字示波器早已具備FFT功能。隨著雷達(dá)和其他寬帶RF系統(tǒng)進(jìn)入數(shù)字領(lǐng)域，現(xiàn)在示波器已具備瞬態(tài)或?qū)掝l帶寬RF信號分析功能。您可以對無外部降頻轉(zhuǎn)頻器的寬帶雷達(dá)、高數(shù)據(jù)速率衛(wèi)星鏈路或跳頻通信系統(tǒng)執(zhí)行脈沖分析、數(shù)字解調(diào)和EVM測量。
六、改善垂直分辨率
大部分示波器的A/D分辨率為8個比特。用不同的采集模式，可按如下所述，通過求相鄰采樣的平均值來提高垂直分辨率。那么，通過求平均值和采用高分辨率模式可將分辨率提高多少呢？理論上講，增加值為0.5Log2N，其中N為相鄰采樣的平均數(shù)。
實(shí)際情況是，2個字節(jié)的存儲深度限制了這一增加。兩個字節(jié)為16位。保留其中一位作為符號位，剩余的15位用作數(shù)據(jù)數(shù)值。舍入誤差使第14位和第15位成為隨機(jī)值，從而使實(shí)際限值變?yōu)?3位。因此，改善可從約六個有效位開始，用高度過采樣時(shí)可增至約13位。
